納米粒子跟蹤分析（NTA）和動(dòng)態(tài)光散射（DLS）

 

　　顆粒粒徑分析儀所有的光散射儀器，包括粒子跟蹤技術(shù)，都存在一個(gè)問(wèn)題：當(dāng)顆粒大小低于100nm時(shí)，靈敏度會(huì)迅速的降低。動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)的zui低檢測(cè)限是0.5nm，對(duì)于納米顆粒跟蹤分析，其zui低檢測(cè)限是10nm。通常，DLS和NTA的主要區(qū)別就在于濃度范圍。對(duì)于DLS，當(dāng)樣品濃度太低時(shí)，顆粒跟蹤分析儀可以非常圓滿(mǎn)的完成檢測(cè)任務(wù)。相反，對(duì)于高濃度的樣品，DLS方法會(huì)非常的適合。

 

　　顆粒分析儀與目前常用的顆粒分析技術(shù)相比，不僅能夠測(cè)定顆粒的大小和數(shù)量，還能測(cè)量粒子的形狀、形態(tài)，對(duì)于顆粒組成、結(jié)構(gòu)、來(lái)源的分析有重要作用。

 

　　顆粒分析儀可以全面客觀的反應(yīng)顆粒的粒徑、粒型的全面量化參數(shù)，并且可以給出其他分析方法的對(duì)應(yīng)報(bào)告結(jié)果（沉降法、電阻法、激光法）達(dá)到一機(jī)多用的作用。該儀器可為微粉、磨料、金剛石、碳化硅、光伏等生產(chǎn)加工企業(yè)提供良好的產(chǎn)品質(zhì)量信息和生產(chǎn)工藝的。

 

　　顆粒分析儀型號(hào)量程及性能特點(diǎn)：

 

　　1、全自動(dòng)激光粒度儀操作簡(jiǎn)便，測(cè)試全程自動(dòng)化，從分散介質(zhì)的加入、超聲、攪拌、到數(shù)據(jù)采集、測(cè)試輸出、清洗等過(guò)程均可自動(dòng)完成。

 

　　2、激光粒度儀采用濕法測(cè)試方式，超聲、攪拌分散，超聲、攪拌時(shí)間可自由設(shè)定。

 

　　3、粒度儀測(cè)試軟件設(shè)計(jì)人性化，界面友好，測(cè)試操作即學(xué)即會(huì)。

 

　　4、粒度儀應(yīng)用全程米氏散射理論，使測(cè)試結(jié)果更加真實(shí)可信。

 

　　5、顆粒分析儀的濃度指示系統(tǒng)，有效的降低了人為誤差對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。

 

　　6、激光粒度分析儀采用自行設(shè)計(jì)的40路光電探測(cè)器，使測(cè)試精度更高。

 

　　7、顆粒分析儀提供包括粒徑范圍、分布百分比、累積百分比、比表面積、平均粒徑、分布曲線、累積曲線、D50、D10、D90等全面分析統(tǒng)計(jì)結(jié)果。

 

　　8、便攜式設(shè)計(jì)，體積更小、重量更輕。

 

　　1)篩分法：篩分法是一種zui傳統(tǒng)的粒度測(cè)試方法，也是過(guò)去zui常用的方法。它是使顆粒通過(guò)不同尺寸的篩孔來(lái)測(cè)試粒度的。篩分法分干篩和濕篩兩種形式，可以用單個(gè)篩子來(lái)控制單一粒徑顆粒的通過(guò)率，也可以用多個(gè)篩子疊加起來(lái)同時(shí)測(cè)量多個(gè)粒徑顆粒的通過(guò)率，并計(jì)算出百分?jǐn)?shù)。篩分法有手工篩、振動(dòng)篩、負(fù)壓篩、全自動(dòng)篩等多種方式。顆粒能否通過(guò)篩幾與顆粒的取向和篩分時(shí)間等素因素有關(guān)，不同的行業(yè)有各自的篩分方法標(biāo)準(zhǔn)。

 

　　(2)顯微鏡法：顆粒粒徑分析儀測(cè)量與實(shí)際顆粒投進(jìn)面積相同的球形顆粒的直徑即等效投影面積直徑。包括顯微鏡、CCD攝像頭(或數(shù)碼像機(jī))、圖形采集卡、計(jì)算機(jī)等部分組成。它的基本工作原理是將顯微鏡放大后的顆粒圖像通過(guò)CCD攝像頭和圖形采集卡傳輸?shù)接?jì)算機(jī)中，由計(jì)算機(jī)對(duì)這些圖像進(jìn)行邊緣識(shí)別等處理，計(jì)算出每個(gè)顆粒的投影面積，根據(jù)等效投影面積原理得出每個(gè)顆粒的粒徑，再統(tǒng)計(jì)出所設(shè)定的粒徑區(qū)間的顆粒的數(shù)量，就可以得到粒度分布了。

 

　　由于這種方法單次所測(cè)到的顆粒個(gè)數(shù)較少，對(duì)同一個(gè)樣品可以通過(guò)更換視場(chǎng)的方法進(jìn)行多次測(cè)量來(lái)提高測(cè)試結(jié)果的真實(shí)性。除了進(jìn)行粒度測(cè)試之外，它還常用來(lái)觀察和測(cè)試顆粒的形貌

 

　　(3)刮板：顆粒粒徑分析儀把樣品刮到一個(gè)平板的表面上，觀察粗糙度，以此來(lái)評(píng)價(jià)樣品的粒度是否合格。此法是涂料行業(yè)采用的一種方法。

 

　　(3)沉降法：依據(jù)顆粒的沉降速度作等效對(duì)比，所測(cè)的粒徑為等效沉速?gòu)?，即用與被測(cè)顆粒具有相同沉降速度的同質(zhì)球形顆粒的直徑來(lái)代表實(shí)際顆粒的大小。有簡(jiǎn)單的沉降瓶法和按此原理設(shè)計(jì)的粒度儀。例如一種納米顆粒粒度分析儀采用的是差示沉淀法進(jìn)行顆粒粒度的測(cè)量和分析。樣品被注入到高速旋轉(zhuǎn)的液體中，然后在離心力的作用下，樣品被快速沉淀并通過(guò)檢測(cè)頭被檢測(cè)并拾取。因?yàn)榇笮〔煌念w粒到達(dá)檢測(cè)頭的時(shí)間不同，因此通過(guò)記錄顆粒到達(dá)檢測(cè)頭的時(shí)間，就可以知道顆粒的大小，

 

　　(4)電阻法：電阻法又叫庫(kù)爾特法，是由美國(guó)一個(gè)叫庫(kù)爾特的人發(fā)明的一種粒度測(cè)試方法。這種方法是根據(jù)顆粒在通過(guò)一個(gè)小微孔的瞬間，占據(jù)了小微孔中的部分空間而排開(kāi)了小微孔中的導(dǎo)電液體，使小微孔兩端的電阻發(fā)生變化的原理測(cè)試粒度分布的。小孔兩端的電阻的大小與顆粒的體積成正比。當(dāng)不同大小的粒徑顆粒連續(xù)通過(guò)小微孔時(shí)，小微孔的兩端將連續(xù)產(chǎn)生不同大小的電阻信號(hào)，通過(guò)計(jì)算機(jī)對(duì)這些電阻信號(hào)進(jìn)行處理就可以得到粒度分布了。

 

　　(5)激光衍射：顆粒粒徑分析儀利用顆粒對(duì)激光的散射特性作等效對(duì)比，所測(cè)出的等效粒徑為等效散射粒徑，即用與實(shí)際被測(cè)顆粒具有相同散射效果的球形顆粒的直徑來(lái)代表這個(gè)實(shí)際顆粒的大小。當(dāng)被測(cè)顆粒為球形時(shí)，其等效粒徑就是它的實(shí)際直徑。一般認(rèn)為激光法所測(cè)的直徑為等效體積徑。該方法測(cè)定速度快，不過(guò)從原理上講顆粒越小，衍射角越大，因此它可能更適合小顆粒。

 

　　(6)透氣法：透氣法也叫弗氏法。先將樣品裝到一個(gè)金屬管里并壓實(shí)，將這個(gè)金屬管安裝到一個(gè)氣路里形成一個(gè)閉環(huán)氣路。顆粒粒徑分析儀當(dāng)氣路中的氣體流動(dòng)時(shí)，氣體將從顆粒的縫隙中穿過(guò)。如果樣品較粗，顆粒之間的縫隙就大，氣體流邊所受的阻礙就??；樣品較細(xì)，顆粒之間的縫隙就小，氣體流動(dòng)所受的阻礙就大。透氣法就是根據(jù)這樣一個(gè)原理來(lái)測(cè)試粒度的。這種方法只能得到一個(gè)平均粒度值，不能測(cè)量粒度分布。這種方法主要用在磁性材料行業(yè)。

 

　　(7)超聲波法：通過(guò)不同粒徑顆粒對(duì)超聲波產(chǎn)生不同的影響的原理來(lái)測(cè)量粒度分布的一種方法。它可以直接測(cè)試固液比達(dá)到70%的高濃度漿料。

 

　　(8)相關(guān)法：用光子相關(guān)原理測(cè)量粒度的一種方法，主要用來(lái)測(cè)量納米材料的粒度分布。